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国内比表面积仪领航者发展历程——彼奥德

编辑:彼奥德 浏览: 添加时间:2013-12-25 09:21

  

北京彼奥德电子技术有限公司(以下简称“彼奥德”)成立于2003年,是一家集项目研发、产品生产、测试咨询于一身的技术服务型企业。主营比表面及孔径分析仪;真密度分析仪;物理及化学吸附分析仪;催化剂综合评价装置;石化微反综合评价装置;变压、变温分析设备等多种通用型分析设备。目前自行研发生产并拥有专利权的产品包括:孔径及比表面积分析设备、真密度分析设备等。

    彼奥德拥有独立的技术研发、产品制造、组装测试及客户服务团队,并具备设计室、数控机床加工中心、装配车间及实验室等自主生产的硬件设施。

发展历程

◆1990年,公司创始人效力于北分仪器厂(即北分集团)技术团队、软件开发团队。

◆2000年,公司创始人离开北分,致力于比表面积仪的研发。

◆2003年1月,彼奥德成立,动态法比表面积仪(SSA-3000系列)投产并销售。

◆2003年9月,独有专利“表面与孔径测定仪计算机工作站的连接器”通过审核(专利号:02229474.0),解决了比表面积仪与电脑信号转换过程中的分析误差,节约了人力和时间。

◆2004年,国内第一台静态法比表面积及孔径分析仪(SSA-4000系列)成功研制并投产。现已升级为SSA-7000系列,满足于科研、学位探讨等方面的需求。

◆2005年,独有专利“液氮饱和蒸汽压测试装置“通过审核(专利号:ZL 2005 2 0098356X),引领国内静态法比表面积及孔径分析仪走向成熟。

◆2006年,成功使用“液位传感器技术”,解决了液氮液位变化引起的测试误差。

◆2007年,成功使用“氦气定量技术”,与“液位传感器技术”完美结合,解决了由于死体积测试不准造成的测试误差。

◆2008年,国内第一台气体法真密度仪研制成功并投产(TD-1000系列),填补了国内技术空白。

◆2010年,第一台程序升温化学吸附仪(PCA-1000系列)成功研制并投产。

◆2011年,成功研制具有“全恒温系统”的真密度仪(TD-2000系列),解决了实验室温度对测试结果的影响,此专利于2012年通过审核(专利号:ZL 2012 2 0185055.0)。

◆2012年,国内第一台独立四站比表面积及孔径分析仪(MFA-100系列)成功研制并投产,解决了小比表面积样品、微孔样品难测;测试效率低、测试过程中无法添加液氮、测试过程中无法换样等问题。标志着国内物理吸附仪走向新的历程。

◆2012年8月,成为“中国颗粒学会”“中国分析测试协会”荣誉会员。

◆2013年,MFA-100系列独有技术专利“B-ST技术”(专利号:ZL 2012 2 0407974.0)、“液氮添加系统”(专利号:ZL 2012 2 0407948.5)相继通过审核,引起了各界专家的关注及好评。





 
文章来源:北京彼奥德比表面积仪分析仪公司,欢迎大家转载,转载请注明出处!
公司地址/Adress:北京市昌平区南郝庄(彼奥德电子)
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